产品说明书
产品概述
| 品牌 | 物光 | 品名 | 上海物光 WKL-702 颗粒图像分析仪 |
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| 型号 | 配置二进口显微镜 | 配置一国产显微镜 |
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规格参数
| 商品属性 | |
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| [产品型号] | WKL-702 颗粒图像分析仪 |
| [测量范围] | 1～3000微米 |
| [最大光学放大倍数] | 1600倍 |
| [最大分辨率] | 0.1微米/像素 |
| [准确性误差] | < ±3%(国家标准物质) |
| [重复性偏差] | < ±3%(国家标准物质) |
| [数据输出] | 周长分布、面积分布、长泾分布、短径分布、周长相当径分布、面积相当径分布、feret径分布、长短径比、中间（D50）、有效粒径（D10）、限定粒径（D60、D30、D97）、个数长度平均径、个数面积平均径、个数体积平均径、长度面积平均径、长度体积平均径、面积体积平均径、不平均系数、曲率系数。 |
售后保障
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l 本产品全国联保，质保期：1年质保（耗材不在保修范围内）；
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